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Grupo Álava presenta sus soluciones nanotecnológicas en NanoSpain

8 de marzo, 2017 XML
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Grupo Álava está participando en NanoSpain 2017 (7 al 10 de marzo, en San Sebastián) mediante la exposición de su amplio abanico de soluciones tecnológicas en un evento ideal para intercambiar ideas, crear redes de contactos, e interactuar sobre los últimos avances y desafíos de la nanociencia y la nanotecnología.

Entre los productos que presenta Grupo Álava destacan soluciones específicas para la mayoría de los procesos de fabricación y medida que hay en el mundo de la nanotecnología. “Logramos esta evolución gracias a nuestra rápida adaptación a las necesidades más actuales, buscando nuevas soluciones tecnologías que garanticen una mayor eficiencia en los procesos y medidas. Ponemos a disposición de nuestros clientes el conocimiento, soporte técnico y compromiso de nuestros profesionales”, explica el doctor Juan Rodríguez, responsable de la división de nanotecnología de Grupo Álava.

Tecnologías del Grupo Álava que podemos ver en NanoSpain:

  • Soluciones de depósitos y ataque como RIE, ICP-RIE, evaporadores o el innovador sistema de ALD.
  • Equipos de rayos X para resolver la estructura cristalográfica de la muestra en cuestión.
  • Microscopía electrónica más actual que permite caracterizar diversos parámetros de muestra, encontrando aplicaciones en un amplio espectro científico.
  • Tecnologías específicas para la caracterización de superficies como AFM o perfilometría, con la posibilidad de integrarlas en procesos de control de calidad industrial.
  • Cajas de guantes cuya versatilidad permite integrar distintos sistemas de fabricación y caracterización, como evaporadores o microscopios, y cuyo rango de aplicaciones abarca desde la industria farmacéutica hasta la energía nuclear, sin olvidar los centros de investigación y universidades.

El stand de Grupo Álava cuenta con un espacio reservado asistido por los doctores Juan Rodríguez y Ana Pérez, además de con la colaboración del experto en AFM Gerald Kada, quien impartirá la conferencia “Scanning Microwave Microscopy for Complex Material Characterization”, el viernes 10 de marzo, a las 9.15 horas.

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